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    賽默飛 ELEMENT2/XR 電感耦合等離子質譜儀

    賽默飛 ELEMENT2/XR 電感耦合等離子質譜儀

    簡要描述:

    賽默飛 ELEMENT2/XR 電感耦合等離子質譜儀可以同時分析周期表中的幾乎所有元素,濃度范圍從mg/L到pg/L ;兼容無機和有機溶液的基體和固體樣品。利用高分辨率直接分析有干擾的同位素;的確信不含干擾的元素圖譜;瞬時信號的多元素檢出器;并能與多種進樣和分離技術聯用,例如激光進樣。

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    賽默飛 ELEMENT2/XR 電感耦合等離子質譜儀可以同時分析周期表中的幾乎所有元素,濃度范圍從mg/L到pg/L ;兼容無機和有機溶液的基體和固體樣品。利用高分辨率直接分析有干擾的同位素;的確信不含干擾的元素圖譜;瞬時信號的多元素檢出器;并能與多種進樣和分離技術聯用,例如激光進樣。目前,已經安裝使用的ELEMENT XR已超過600臺,服務于環境監測、核科學、地球科學、材料科學等各個領域。
    賽默飛 ELEMENT2/XR 電感耦合等離子質譜儀主要特點:
    · 線性范圍寬:線性范圍達12個數量級,不同模式自動切換校正;
    · 靈敏度高:可使用賽默飛的Jet接口技術,提供的靈敏度;
    · 具有固定寬度的低、中、高分辨率狹縫,采用高分辨率可直接分析有質譜干擾的同位素。
    目前市場上電感耦合等離子體質譜儀大多數為四極桿型的ICPMS,波譜干擾是其的主要局限。作為等離子體氣的氬氣、水、酸和樣品基體本身結合在一起會產生各種各樣寬范圍的多原子聚離子,這種干擾聚離子可能擁有和目標元素相同的質量數,導致在表面上目標元素的濃度不合實際地高。有好幾種方式被用于減少或回避這種波譜干擾的形成。包括運用數學校正、特殊的樣品導入系統、特殊的等離子體參數和碰撞/動態反應池來壓制部分的干擾,但是如果樣品的基體比較復雜時,這種干擾就很難被消除。因此高分辨等離子質譜儀(HR-ICP -MS)應運而生,具有高分辨率的雙聚焦磁質譜儀的之處在于簡單地利用干擾和目標元素的質量數之間的微弱差別,無需知道干擾是什么,來自何方?zui高10000高分辨分析能力,能有效消除由等離子體、水以及基體元素所產生的多種干擾。
    集成的法拉第杯檢測器特征
    1.樣品時間低至1ms
    2.高強度信號測量后無需延遲時間
    3.SEM檢測器(模擬與計數雙模式)和法拉第杯檢測器之間的自動切換,延遲時間為< 1ms
    4.不同檢測器工作模式之間存在較寬的交叉重疊范圍(數量級>2),可自動準確地進行交叉校正。
    5.全自動交叉校正法拉第杯檢測器信號與SEM檢測器的模擬信號
    6.動態范圍:5 x 10c cps to > 1 x 1012 cps(1ms樣品時間)
    7.可實現的zui大可測量濃度超過1

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