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    FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡

    FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡

    簡要描述:

    FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡滿足傳統高分辨率樣品研究所需的一切,簡單易用的 InspectTM 專為滿足研究各類材料以及表征材料結構和成分的主流需求而設計,配備高穩定分辨率平臺,可滿足大多數研究的需要。

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    FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡滿足傳統高分辨率樣品研究所需的一切,簡單易用的 InspectTM 專為滿足研究各類材料以及表征材料結構和成分的主流需求而設計,配備高穩定分辨率平臺,可滿足大多數研究的需要。簡單易用的界面可實現準確、快速的數據收集:將表面形貌和成分圖像與快速元素分析結合,確定材料特性及其化學元素組成。在眾多領域,高分辨率和高電流 FEG 掃描電鏡的價值在于有助應對生成高品質圖像和實施快速分析的挑戰。
    FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡是這些基礎研究應用領域主流而靈活的解決方案。用戶界面簡單、易學且靈活,足以應對復雜環境內不同項目個別研究需求不同的挑戰。例如,標準導航功能包括樣品臺移動雙擊控制和拖放變焦。SmartSCANTM技術采用針對困難樣品的智能掃描策略,可減少噪聲,提供的數據。該儀器系列的設計源于顯微鏡工作者,并用于顯微鏡工作者,是一款真正超越僅有“易用性”的產品。
    許多可用的新功能有助定制 InspectTM系列使其可實現特定的表征。諸如射束減速等新功能可將傳統 FEG 掃描電鏡的低加速電壓性能提升至全新的高度。Nav-Cam™ 彩色圖像導航和新探測器令 具備更大的靈活性。更優質的數據、更大的靈活性、更高的效率,InspectTM 可實現快速簡單的操作,迅速獲知答案,實現投資價值。

     

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