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    賽默飛 MICROLAB 350場發射俄歇電子譜儀
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    賽默飛 MICROLAB 350場發射俄歇電子譜儀是一款高性能的,具有高靈敏度和高能量分辨率掃描俄歇電子能譜儀(AES)。 SEM分辨率7納米和掃描俄歇映射(SAM)分辨率12納米。

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    PHI 700Xi 俄歇電子能譜儀掃描俄歇納米探針
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    PHI 700Xi 俄歇電子能譜儀掃描俄歇納米探針提供高性能的俄歇(AES)頻譜分析,俄歇成像和濺射深度分析的復合材料包括:納米材料,催化劑,金屬和電子設備。維持基于PHI CMA的核心俄歇儀器性能,和響應了用戶所要求以提高二次電子(SE)成像性能和高能量分辨率光譜。

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    PHI 4700 AES俄歇分析儀
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    PHI 4700 AES俄歇分析儀在開發新材料及薄膜制程上,為了有助于了解材料組成間的相互作用及解決工藝流程的問題,材料組成或薄膜迭層的深度分析是非常重要的。

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