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    PHI nanoTOF II 飛行時間二次離子質譜儀
    PHI nanoTOF II 飛行時間二次離子質譜儀

    PHI nanoTOF II 飛行時間二次離子質譜儀是一種表面敏感的技術,提供表面分子,元素及其同位素前幾個原子層的組成圖像。所有元素和同位素,包括氫氣都可以用飛行時間二次離子質譜分析。在理論上,該儀器可以在一個無限大的質量范圍內提供很高的質量分辨率(在實踐中通常是大約 10000amu)。

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